دانلود ترجمه مقاله بررسی روش های محاسبه سرعت تخریب فتوولتائیک
ترجمه در قالب فایل Word و قابل ویرایش میباشد
سال انتشار:2014
تعداد صفحه ترجمه:38
تعداد صفحه فایل انگلیسی:10
موضوع انگلیسی :Reviewofphotovoltaicdegradationratemethodologies
موضوع فارسی:دانلود ترجمه مقاله بررسی روش های محاسبه سرعت تخریب فتوولتائیک
چکیده انگلیسی:This paperprovidesareviewofmethodologiesformeasuringthedegradationrate, RD, ofphotovoltaic(PV)
technologies,asreportedintheliterature.Aspresentedinthispaper,eachmethodyieldsdifferentresultswith
varyinguncertaintydependingonthemeasuringequipment,thedataqualification and filteringcriteria,the
performance metricandthestatisticalmethodof estimation ofthetrend.Thisimposestheriskof
overestimatingorunderestimatingthetruedegradation rateand,subsequently,theeffectivelifetimeofa
PV module/array/systemandprovestheneedfordefiningastandardizedmethodology.Throughaliterature
search, fourmajorstatisticalanalysismethodswererecognizedforcalculatingdegradationrates:(1)Linear
Regression(LR),(2)ClassicalSeasonalDecomposition (CSD),(3)AutoRegressiveIntegratedMovingAverage
(ARIMA)and,(4)LOcallywEightedScatterplotSmoothing(LOESS),withLRbeingthemostcommon.These
analyseswereappliedonthefollowingperformancemetrics:(1)electricalparametersfromIVcurvesrecorded
under outdoororsimulatedindoorconditionsandcorrectedtoSTC,(2)regressionmodelssuchasthe
PhotovoltaicsforUtilityScaleApplications(PVUSA)andSandiamodels,(3)normalizedratingssuchas
Performance Ratio, RP, and PMPP/GI and, (4)scaledratingssuchas PMPP/Pmax, PAC/Pmax andkWh/kWp. The
degradationrateresultshaveshownthattheIVmethodproducedthelowest RD andLRproducedresultswith
largevariationandthelargestuncertainty.TheARIMAandLOESSmethods,albeitlesspopular,produced
resultswithlowvariationanduncertaintyandwithgoodagreementbetweenthem.Mostimportantly,this
reviewshowedthatthe RD isnotonlytechnologyandsitedependent,butalsomethodologydependent.
چکیده فارسی:این مقاله به بررسی و مروری بر روش شناسیِ سرعت تخریب( ) تکنولوژی فتوولتائیک (PV)، آنگونه که در کتاب ها گزارش شده، پرداخته است. هر کدام از روش ها، همانطور که در مقاله ذکر شده است، بسته به تجهیزات اندازه گیری، صلاحیت داده ها و معیارهای فیلتر، عملکرد متریک و روش های آماری در برآورد روند، نتایجی مختلف با عدم قطعیت های مختلف ارائه می دهد. این امر باعث ایجاد خطرِ برآورد بیشتر یا کمتر سرعت واقعی تخریب و در نتیجه طول عمر موثر سیستم/آرایه/ ماژول PV شده و نیاز به تعریف یک روش شناسی استاندار را به اثبات می رساند. در یک جستجوی موضوعی چهار روش آماری تجزیه و تحلیل برای محاسبه سرعت تخریب شناسایی شد. 1) رگرسیون خطی (LR) 2) تجزیه فصلی کلاسیک (CSD) 3) میانگین متحرک اتورگرسیو مجتمع (ARIMA) 4) لُوِس (, LOESS Locally Weighted Scatterplot Smoothing ) ، که LR پر استفاده ترین روش بود. این تجزیه و تحلیل ها بر اساس عملکردهای متریک زیر به کار برده شد. 1) پارامترهای الکتریکی منتج شده از منحنی IV که در شرایط شبیه سازی شده داخلی و خارجی و اصلاح شده به STC 2) مدل های رگرسیون از قبیل فتوولتائیک برای کاربردهای سودمند مقیاس (PVUSA) و مدل های Sandia 3)
